產(chǎn)品中心
Product Center
熱門搜索:
    
    
      超快瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)-TA100
    
      穩(wěn)態(tài)/瞬態(tài)熒光光譜系統(tǒng)-TPL300
    
      超快時(shí)間分辨太赫茲光譜系統(tǒng)-THZ100
    
      超快熒光光譜系統(tǒng)-UF100
    
    
    
      閃光光解系統(tǒng)-LFP100
    
      深紫外熒光系統(tǒng)
    
      碳化硅襯底位錯(cuò)缺陷光學(xué)無損檢測(cè)系統(tǒng)
    
      多功能激光掃描共聚焦熒光成像系統(tǒng)-FLIM300
    
    
    
      MICRO LED晶圓級(jí)綜合檢測(cè)系統(tǒng)
    
      大能量DPSS Nd:YAG納秒脈沖激光器
    
      高能高頻DPSS連續(xù)可調(diào)諧納秒激光器
    
      非線性SHG測(cè)試系統(tǒng)-SHG100
    
    
    
      SiC晶圓質(zhì)量成像檢測(cè)系統(tǒng)
    
      Z掃描測(cè)試系統(tǒng)-ZTS100
    
      高速探測(cè)器
    
      超快泵浦探測(cè)陰影成像系統(tǒng)-UPSI100
    
    
當(dāng)前位置:首頁
產(chǎn)品中心
非線性光學(xué)系列
Z掃描測(cè)試系統(tǒng)
Z掃描測(cè)試系統(tǒng)-ZTS100
                    
Z掃描測(cè)試系統(tǒng)-ZTS100
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
                  product
產(chǎn)品分類article
相關(guān)文章Z掃描測(cè)試系統(tǒng)-ZTS100主要技術(shù)指標(biāo)
精密光學(xué)位移臺(tái)
速度  | 30 mm/s  | 
最小分辨率  | 0.1 μm  | 
重復(fù)定位精度  | <2 μm  | 
功率探測(cè)器  | |
測(cè)試波長(zhǎng)  | 350-1700 nm  | 
功率檢測(cè)范圍  | 50 nW-40 mW  | 
抖動(dòng)消除  | 參比雙通道信號(hào)同時(shí)采集  | 
Z掃描測(cè)試系統(tǒng)-ZTS100應(yīng)用實(shí)例
實(shí)驗(yàn)條件
樣品名稱  | 單晶硅  | 
激發(fā)光波長(zhǎng)  | 1030 nm  | 
探測(cè)光波長(zhǎng)  | 1030 nm  | 

大連創(chuàng)銳光譜科技有限公司基于自主創(chuàng)新的時(shí)間分辨光譜技術(shù),致力于推動(dòng)光譜技術(shù)在科研和工業(yè)領(lǐng)域的深入應(yīng)用。在科研儀器領(lǐng)域,創(chuàng)銳光譜由一線專家?guī)ш?duì),是目前國(guó)內(nèi)極少具備瞬態(tài)光譜獨(dú)立研發(fā)-生產(chǎn)-應(yīng)用完整能力體系的團(tuán)隊(duì)。創(chuàng)銳光譜以時(shí)間分辨光譜核心技術(shù),超快瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)為核心產(chǎn)品,打破進(jìn)口壟斷格局。主要產(chǎn)品包括瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)、共聚焦熒光成像系統(tǒng)、DPSS納秒激光器及高速探測(cè)器。在工業(yè)半導(dǎo)體檢測(cè)領(lǐng)域,公司以光譜技術(shù)創(chuàng)新為核心立足點(diǎn),已迅速完成碳化硅襯底、外延、氮化鎵、鈣鈦礦電池等多領(lǐng)域布局。